Quanta 400 FEG場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
首頁物理金相Quanta 400 FEG場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
設(shè)備資源
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Quanta 400 FEG場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
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參數(shù):
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技術(shù)指標(biāo)
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電子光學(xué)系統(tǒng): Quanta 400 FEG的特點(diǎn)是電子光學(xué)鏡筒的光軸預(yù)先調(diào)整到達(dá)最高分辨率和穩(wěn)定電子束的最佳狀態(tài)。電子光學(xué)系統(tǒng)主要包含以下內(nèi)容: 電子源 肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍。電子槍部件調(diào)整到最佳狀態(tài),高亮度大束流,提供無噪音成像。 加速電壓 200V ~ 30kV 束流 >100nA 分辨率 (用碳膜上的金顆粒來測(cè)試) 高真空:1.2nm@30kV (SE);2.5nm@30kV (BSE);3.0nm@1kV (SE) 低真空:1.5nm@30kV (SE);2.5nm@30kV (BSE);3.0nm@3kV (SE) 擴(kuò)展的真空模式(ESEM):1.5nm@30kV (SE) 焦距范圍 2.5 ~ 99 mm 放大倍率 12x (長工作距離) ~ >2,000,000x 在19"LCD顯示器上單一像限觀察 視野范圍 在高、低真空模式具有同樣的視野范圍 (最大工作距離17mm)
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應(yīng)用范圍
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Quanta 400 FEG是一個(gè)場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡,可以產(chǎn)生和收集任何樣品的信息。它是最通用型的高分辨低真空的場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡,具有低真空性能可用于真正有挑戰(zhàn)性的樣品和動(dòng)態(tài)實(shí)驗(yàn)。這是第二代的Quanta
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